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      在電子信息化社會中，電子技術(shù)和微電子技術(shù)是最為基礎(chǔ)的技術(shù)支撐。電子技術(shù)廣泛應(yīng)用于國民經(jīng)濟(jì)的各個領(lǐng)域，是信息社會的重要基石。合適且優(yōu)秀的電子產(chǎn)品不僅僅是性能出類拔萃，耐用、使用壽命長也是對電子產(chǎn)品的另外一項(xiàng)重要的考核指標(biāo)。對電子與微電子材料的選材與設(shè)計、并進(jìn)行力學(xué)測試分析，關(guān)系著電子與微電子產(chǎn)品設(shè)計的發(fā)展。

        凱爾測控針對電子/微電子材料可提供：靜態(tài)拉伸/壓縮強(qiáng)度試驗(yàn)、動態(tài)疲勞使用壽命試驗(yàn)、三點(diǎn)彎壓縮試驗(yàn)、四點(diǎn)彎壓縮試驗(yàn)、平板拉伸試驗(yàn)、動/靜態(tài)扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)、側(cè)向力剪切試驗(yàn)、3維DIC樣品變形試驗(yàn)、2維引伸計應(yīng)變測量/云圖繪制、高低溫環(huán)境下的材料性能變化。


推薦產(chǎn)品：大型原位雙軸力學(xué)試驗(yàn)系統(tǒng)


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  • 試驗(yàn)案例

三維DIC觀測高溫環(huán)境下的電路板拉伸變形


       利用三維DIC軟件與高溫環(huán)境箱進(jìn)行連用，搭配三維計算軟件，對試樣加熱過程中的結(jié)構(gòu)變化進(jìn)行實(shí)時拍攝，經(jīng)過計算生成三維模型，可計算出與生成模型相對應(yīng)的樣品位置的各向應(yīng)變與各向位移。


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