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       在電子信息化社會中，電子技術(shù)和微電子技術(shù)是最為基礎(chǔ)的技術(shù)支撐。電子技術(shù)廣泛應(yīng)用于國民經(jīng)濟(jì)的各個領(lǐng)域，是信息社會的重要基石。合適且優(yōu)秀的電子產(chǎn)品不僅僅是性能出類拔萃，耐用、使用壽命長也是對電子產(chǎn)品的另外一項重要的考核指標(biāo)。對電子與微電子材料的選材與設(shè)計、并進(jìn)行力學(xué)測試分析，關(guān)系著電子與微電子產(chǎn)品設(shè)計的發(fā)展。

        凱爾測控針對電子/微電子材料可提供：靜態(tài)拉伸/壓縮強(qiáng)度試驗、動態(tài)疲勞使用壽命試驗、三點彎壓縮試驗、四點彎壓縮試驗、平板拉伸試驗、動/靜態(tài)扭轉(zhuǎn)試驗、側(cè)向力剪切試驗、3維DIC樣品變形試驗、2維引伸計應(yīng)變測量/云圖繪制、高低溫環(huán)境下的材料性能變化。


推薦產(chǎn)品：原位雙軸力學(xué)試驗系統(tǒng)



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  • 試驗案例

雙軸等速靜態(tài)慢拉伸電子元件試驗


       采用IPBF-300設(shè)備，雙軸同步/非同步進(jìn)行拉伸，采集樣品在試驗過程中產(chǎn)生的位移變、載荷變化、應(yīng)變變化，分析材料各向異性，建立材料本構(gòu)模型。


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